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晶振的頻率與誤差測試方法
日期：2025-09-15 00:56
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摘要：
晶振的頻率與誤差測試方法
1．概述
CX-118A型晶振測試儀使用微處理器技術，實現了智能化測量。本系列儀器采用倒數計數技術實現等精度測量。它測量精度高，靈敏度高，速度快，閘門時間可選；具有頻率測量、周期測量、PPM測量、分檔測量、上下限測量、累加計數等功能；中心頻率（標稱頻率）F0、分檔值Pr1～Pr8(ppm) 、上限頻率FU、下限頻率FL可任意設定并能存儲。該機前置電路有低通濾波器、衰減器等。特別適合晶體行業、郵電、通信、廣播電視、學校、研究所及工礦企業的生產和科研之用。
2．主要特征
2．1 本機采用倒數計數技術，測量精度高，測量范圍寬，真正實現等精度測量，測量速度快，靈敏度高。
2．2 采用單片微機技術進行周期頻率測量和智能化管理，使得儀器具有很高的可靠性和優良的性能／價格比。
2．3 整機采用大規模集成電路設計，CPLD器件的運用，使儀器元器件大為減少，可靠性有了很大的提高，平均無故障工作時間≥10000h。
· 整機外型美觀大方，體積小，重量輕，使用方便。
3．技術參數
3.1 測量范圍
· 頻率測量：A通道:1Hz～100MHz；
B通道:100MHz～1.6GHz(選件)
· 周期測量：A通道:10ns～1s
· PPM測量：-9999～9999ppm
· 上、下限測量：可根據用戶所設定的上限參數FU、下限參數FL來測量被測頻率是否超出上、下限，超限則報警。
· 分檔測量：根據用戶所設定的中心頻率F0自動進行分檔測量。分檔值：Pr1～Pr8可在1～999ppm之間任意設置
分檔檔數：以中心頻率F0為中點左右分成16檔
· 累加計數：計數容量：0～109－1 (選件)
計數方式：鍵控、門控或外門控可選。
3.2 輸入特性
· 輸入阻抗： A通道: 1MΩ//40pF
B通道: 50Ω
3.2.2 輸入耦合方式：AC
3.2.3 波形適應性：正弦波、脈沖波
· 輸入電壓動態范圍:
A通道：30mVrms～250Vp～p
B通道: 30mVrms～1Vrms
3.2.5 A通道低通濾波器：－3dB 帶寬約100kHz
3.2.6 A通道衰減：×1或×20
3.3 測量誤差
3.3.1 頻率或周期測量誤差：±時基誤差±觸發誤差±LSD
100ns
其中：LSD＝─────×被測頻率（或被測周期）
閘門時間
觸發誤差：當被測信號的信噪比為40dB時，觸發誤差≤0.3%
· PPM測量誤差：±時基誤差±觸發誤差±LSD
其中：LSD＝(100ns/閘門時間)×106ppm
例如：閘門時間=1s時 LSD＝0.1ppm
閘門時間=0.1s時 LSD＝1ppm
3.3.3 計數誤差：±1
3.4閘門時間
固定閘門：10ms、100ms、1s、10s 四檔可選；
可調閘門：50ms～95ms 分10檔，每檔間隔5ms。
3.5 晶體振蕩器
標稱頻率：10MHz
頻率穩定度：5×10-6/d
（可根據用戶需求，選配更高量級的晶振。
如：1×10-6/d、5×10-7/d、1×10-7/d等）。
3.6 外頻標輸入
輸入頻率：10MHz
輸入幅度：>1Vp～p 正弦波
3.7 顯示
13位0.4吋綠色高亮數碼管，三個單位LED指示燈（MHz、kHz、Hz），一個閘門LED指示燈(GATE)，一個外頻標LED指示燈(EXT)和一個PPM單位指示燈（PPM）。
3.8 電源
電壓：交流220V±10%
頻率：50Hz±5%
功耗：<8VA
3.9 外形尺寸：230×250×90(mm)
3.10 質量：<1.5kg
晶振測試盒選配：
晶體測量匹配器：
1Hz-20MHz （標配）
20MHz-40MHz ,
40MHz-65MHz
65MHz-100MHz .
