IP防護等級試具的主要參數
IP1X試驗探棒|IEC61032圖1|Test probe A
基本簡介：
1、根據GB/T4208-2008、IEC61032:1997、IEC60529:2001及UL等相應條款制作而成。

技術參數：
1、探球直徑：50mm
2、擋板直徑：50mm
3、擋板厚度：4mm
4、手柄直徑：10mm
5、手柄長度：100mm
6、根據IEC61032圖1(Test probe A) 、GB/T4208-2008表6（**位特征數字1）。

IP2X試驗探棒|IEC61032圖2|Test probe B
產品概述：
符合GB4706、GB2099、GB4943、GB4208IPX2、GB3883圖1、IEC61032圖2試具B、IEC950圖2A、IEC60884、IEC60335、GB/T16842試具B、UL507、EN60529圖1、UL1278圖8.4等標準要求。用于防止手指觸及或防觸電檢驗的防護檢驗。

基本簡介：
1、根據GB4706.1-2005、GB2099.1-2008及相關IEC61032、UL等相應條款制作而成。

技術參數：
1、彎指直徑：12 mm
2、彎指長度：80mm（三節總長度）
3、擋板直徑：50mm
4、擋板長度：100mm
5、參考標準：GB4706.1-2005第8.1.1條、IEC61032：1997 圖2

IP3X試驗探針|IEC61032圖3|Test probe C
基本簡介：
1、根據GB/T4208-2008、IEC61032:1997、IEC60529:2001及UL等相應條款制作而成。

技術參數：
1、探棒長度：100mm
2、探棒直徑：2.5mm
3、檔球直徑：35mm
4、手柄直徑：10mm
5、手柄長度：100mm
6、根據IEC61032圖3(Test probe C) 、GB/T4208-2008表6（**位特征數字3）。
IP4X試驗探針|IEC61032圖3|Test probe D
基本簡介：
1、根據GB/T4208-2008、IEC61032:1997、IEC60529:2001及UL等相應條款制作而成。

技術參數：
1、探棒長度：100mm
2、探棒直徑：1mm
3、檔球直徑：35mm
4、手柄直徑：10mm
5、手柄長度：100mm
6、根據IEC61032圖4(Test probe D) 、GB/T4208-2008表6（**位特征數字4/5/6）。